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    • Estudio de fallas en fuentes de alimentación conmutadas debido al estrés de los capacitores electrolíticos 

      Olsson, Jorge Alberto; Trochez, Oscar Dionisio; López, Jorge Luis; Santiago, Lea Vanessa; Anocibar, Héctor Rolando; Kurtz, Víctor Hugo (Universidad Nacional de Misiones. Facultad de Ingeniería. Secretaría de Ciencia y Técnica, 2019-06-21)
      Este trabajo enmarcado en un proyecto de investigación acreditado, tuvo como objetivo determinar las principales causas de fallas en fuentes conmutadas o switching. En un 83% de los casos analizados los resultados empíricos ...