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Estudio de fallas en fuentes de alimentación conmutadas debido al estrés de los capacitores electrolíticos
(Universidad Nacional de Misiones. Facultad de Ingeniería. Secretaría de Ciencia y Técnica, 2019-06-21)
Este trabajo enmarcado en un proyecto de investigación acreditado, tuvo como objetivo determinar las principales causas de fallas en fuentes conmutadas o switching. En un 83% de los casos analizados los resultados empíricos ...
Susceptibilidad de componentes electrónicos a descargas electrostáticas en el modelo del cuerpo humano
(Universidad Nacional de Misiones. Facultad de Ingeniería. Secretaría de Ciencia y Técnica, 2020-08-24)
Este trabajo tuvo como objetivo presentar lineamientos generales para determinar la susceptibilidad a descargas electroestáticas de componentes de equipos eléctricos y electrónicos, en el modelo de cuerpo humano. Este ...