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dc.creatorOchoa Sosa, Jonathan Emmanuel
dc.creatorNuñez, Rubén Orlando
dc.creatorOggier, Germán Gustavo
dc.creatorGarcía, Guillermo Oscar
dc.date.accessioned2023-01-07T15:28:16Z
dc.date.available2023-01-07T15:28:16Z
dc.date.issued2018-10-03
dc.identifier.citationOchoa Sosa, J. E., Nuñez, R. O., Oggier, G. G., y García, G. O. (2018). Análisis de Fallas de Circuito Abierto de Transistor en Convertidores CC-CC con Puentes Duales Activos Trifásicos para Aplicaciones en Microrredes. Simposio Iberamericano en Microrredes Inteligentes con Integración de Energías Renovables (II: 2018 Octubre 3-4: Foz de Iguazú, Paraná. Brasil) Foz de Iguazú, Brasil: CYTED. MEIHAPER, 7 p.es_AR
dc.identifier.otherCCPI-FI-DC-003
dc.identifier.other6395
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12219/4139
dc.descriptionFil: Ochoa Sosa, Jonathan Emmanuel. Universidad Nacional de Río Cuarto. Grupo de Electrónica Aplicada; Argentina.es_AR
dc.descriptionFil: Ochoa Sosa, Jonathan Emmanuel. Universidad Nacional de Río Cuarto. Instituto de Investigaciones Energéticas y Materiales Avanzados; Argentina.es_AR
dc.descriptionFil: Ochoa Sosa, Jonathan Emmanuel. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Instituto de Investigaciones Energéticas y Materiales Avanzados; Argentina.es_AR
dc.descriptionFil: Nuñez, Rubén Orlando. Universidad Nacional de Misiones. Facultad de Ingeniería. Grupo de Investigación y Desarrollo de Ingeniería Electrónica; Argentina.es_AR
dc.descriptionFil: Nuñez, Rubén Orlando. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Instituto de Materiales de Misiones; Argentina.es_AR
dc.descriptionFil: Oggier, Germán Gustavo. Universidad Nacional de Río Cuarto. Grupo de Electrónica Aplicada; Argentina.es_AR
dc.descriptionFil: Oggier, Germán Gustavo. Universidad Nacional de Río Cuarto. Instituto de Investigaciones Energéticas y Materiales Avanzados; Argentina.es_AR
dc.descriptionFil: Oggier, Germán Gustavo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Instituto de Investigaciones Energéticas y Materiales Avanzados; Argentina.es_AR
dc.descriptionFil: García, Guillermo Oscar. Universidad Nacional de Río Cuarto. Grupo de Electrónica Aplicada; Argentina.es_AR
dc.descriptionFil: García, Guillermo Oscar. Universidad Nacional de Río Cuarto. Instituto de Investigaciones Energéticas y Materiales Avanzados; Argentina.es_AR
dc.descriptionFil: García, Guillermo Oscar. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Instituto de Investigaciones Energéticas y Materiales Avanzados; Argentina.es_AR
dc.description.abstractEn este trabajo se presenta el análisis del funcionamiento de un Convertidor CC-CC con Puentes Duales Activos Trifásicos para aplicaciones en microrredes eléctricas, antes y luego de un evento de falla de circuito abierto de transistor. Se identifican los principales síntomas del convertidor, para las condiciones de funcionamiento mencionadas, a través de las formas de ondas de tensiones y corrientes del convertidor. En base a este análisis, es posible identificar el semiconductor que presenta la falla y su ubicación en el circuito. Con el objetivo de validar el análisis se presentan resultados de simulación.es_AR
dc.formatapplication/pdf
dc.format.extent302.8 KB
dc.language.isospaes_AR
dc.publisherPrograma Iberoamericano de Ciencia y Tecnología para el Desarrollo (CYTED). Microrredes Eléctricas Hibridas con Alta Penetración de Energías Renovables (MEIHAPER)es_AR
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-sa/4.0/
dc.subjectMicrorredes eléctricases_AR
dc.subjectConvertidor CC-CC bidireccionales_AR
dc.subjectConvertidor con puentes duales activos trifásicoses_AR
dc.subjectFallas en convertidoreses_AR
dc.titleAnálisis de fallas de circuito abierto de transistor en convertidores CC-CC con puentes duales activos trifásicos para aplicaciones en microrredeses_AR
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObject
dc.typeinfo:ar-repo/semantics/documento de conferencia
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/acceptedVersion


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